Researchers at the University of New South Wales (UNSW) in Australia evaluated the effects of different flux types on the corrosion of metal contacts in tunneling oxide passivated contact (TOPCon) solar cells under damp heat conditionsผลการทดลองแสดงให้เห็นว่า การไหลเวียนที่ "ไม่สะอาด" สามารถทําให้เกิดการกัดรัดอย่างรุนแรงของแอนด์ไซด์ silver-aluminum (Ag-Al)
การทดสอบความร้อนความชื้น (DH) คือการทดสอบความชราที่เร่งรัด โดยทําให้อุปกรณ์ไฟฟ้าไฟฟ้ามีอุณหภูมิ 85 °C และความชื้น 85% เป็นเวลาอย่างน้อย 1000 ชั่วโมง เพื่อประเมินความน่าเชื่อถือของโมดูลภายใต้สภาพที่รุนแรงดังกล่าว"การวิจัยของเราทําให้ผู้ผลิตไฟฟ้าไฟฟ้า, วิธีราคาถูกในการระบุปัญหาความน่าเชื่อถือที่เกี่ยวข้องกับการไหลเวียนในช่วงต้นของการผลิต โดยการนี้ลดการเรียกร้องการรับประกันและการสูญเสียผลงานที่เกิดจากการกัดกรองที่เกิดจากความชื้น"ผู้เขียนรายงาน.
แหล่งไหลที่ใช้ระหว่างการประกอบโมดูลเพื่อกําจัดชั้นออกไซด์จากพื้นผิวของเทปผสมเพื่อให้ความเชื่อมโยงโลหะที่แข็งแรงที่ไม่ต้องการการทําความสะอาด และสามารถกําจัดชั้นออกไซด์และสร้างพันธะที่แข็งแรง, แต่ทิ้งปริมาณน้อยของซากที่ไม่นําไฟ
การทดสอบใช้ฟลัคซ์ทางการค้าสองชนิด คือ ฟลัคซ์ A ที่ใช้กรดคาร์บ๊อกซิล และ ฟลัคซ์ B ที่ใช้กรดเมลิกเซลล์ TOPCon แบบ n สามตัวถูกผลิตโดยใช้กระบวนการ Optimization การสัมผัสที่เพิ่มเติมด้วยเลเซอร์ (LECO) ในปี 2019นักวิจัยสังเกตว่าเซลล์มีโครงสร้างคล้ายกัน โดยมีตัวปล่อยบอร์อนที่ปรับปรุงด้านหน้าที่ครอบคลุมด้วยอะลูมิเนียมออกไซด์ (Al2O3) และซิลิคอนไนไตรด์ (SiNx)และเส้นเกรดเงินที่พิมพ์บนแผ่น; ด้านหลังประกอบด้วยซิลิคอนไดออกไซด์ (SiO2), โพลิสิลิคอนที่มีฟอสฟอรัส, SiNx, และเส้นเกรดเงินเดียวกัน
ตัวอย่างถูกแบ่งออกเป็น 5 กลุ่ม: Flux ด้านหน้า A, Flux ด้านหน้า B, Flux ด้านหลัง A, Flux ด้านหลัง B และคอนโทรลที่ไม่ใช้น้ําผสมผสมถูกนําไปใช้โดยการพ่นและแห้งบนแผ่นร้อน 85 °C นานถึง 10 นาที.
การวิเคราะห์แสดงให้เห็นว่า "ไม่สะอาด" เหลือระบายน้ําทําให้เกิดการกัดรังสีที่สําคัญของ TOPCon หน้าด้านหน้า Ag Al ติดต่อภายใต้สภาพความร้อนที่ชื้น เพิ่มความต้านทานชุดและลดประสิทธิภาพโฮคซ์ระบุ, " Flux A ที่มีฮาโลเจน มีประสิทธิภาพต่อการกัดรังมากกว่า Flux B แต่ทั้งคู่สามารถทําให้เกิดการทําลายล้างที่สําคัญ"
ทีมงานวิจัยยังพบว่า ผงเงินด้านหลังแสดงการละลายน้อย เนื่องจากความมั่นคงทางเคมีที่ดีกว่าขณะที่โครงสร้างโลหะที่หนาแน่นกว่าและมีปริมาณอะลูมิเนียมที่ต่ํากว่า.
เพื่อแก้ปัญหาเหล่านี้ นักวิจัยแนะนําให้ดําเนินการทดสอบความร้อนความชื้นบนเซลล์ที่ไม่ได้บรรจุ ก่อนบรรจุโมดูลเพื่อระบุความเสี่ยงที่เกี่ยวข้องกับการไหลเวียนอย่างรวดเร็วพวกเขายังแนะนําให้เลือกยาที่มีฮาโลเจนน้อย, สูตรของไหลเวียนที่ปรับปรุงด้วยกรดและปรับปรุงองค์ประกอบและโครงสร้างของผงโลหะเพื่อจํากัดการเจาะแพร่ของไหลเวียน
ผลการวิจัยถูกตีพิมพ์ในวารสาร Solar Energy Materials and Solar Cells ชื่อว่า "การประเมินผลกระทบของการกัดกรองที่เกิดจากกระแส solder บนเซลล์แสงอาทิตย์ TOPCon"
ก่อนหน้านี้ การศึกษาร่วมกันของ UNSW และ Canadian Solar ได้ยืนยันว่าการเลือกพลัสมีความสําคัญต่อความน่าเชื่อถือของเซลล์ TOPCon และเซลล์ heterojunction (HJT)ทีมงานที่แตกต่างกันจากสถาบันเทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์เกาหลี (KETI) พบว่ากระแสทางการค้าสามารถทําลายอิเล็กทรอนด์อินเดียมทองแดงออกไซด์ (ITO) ในเซลล์ HJTUNSW ยังได้สํารวจกลไกการทําลายของเซลล์ TOPCon ภายใต้การนํา UV, การคล้องเอธิลีนไวนิลเอเซเทต (EVA) และการเผชิญหน้ากับไอออนโซเดียมเผยรูปแบบความผิดพลาดต่าง ๆ ที่ไม่เห็นในโมดูล PERC.
Researchers at the University of New South Wales (UNSW) in Australia evaluated the effects of different flux types on the corrosion of metal contacts in tunneling oxide passivated contact (TOPCon) solar cells under damp heat conditionsผลการทดลองแสดงให้เห็นว่า การไหลเวียนที่ "ไม่สะอาด" สามารถทําให้เกิดการกัดรัดอย่างรุนแรงของแอนด์ไซด์ silver-aluminum (Ag-Al)
การทดสอบความร้อนความชื้น (DH) คือการทดสอบความชราที่เร่งรัด โดยทําให้อุปกรณ์ไฟฟ้าไฟฟ้ามีอุณหภูมิ 85 °C และความชื้น 85% เป็นเวลาอย่างน้อย 1000 ชั่วโมง เพื่อประเมินความน่าเชื่อถือของโมดูลภายใต้สภาพที่รุนแรงดังกล่าว"การวิจัยของเราทําให้ผู้ผลิตไฟฟ้าไฟฟ้า, วิธีราคาถูกในการระบุปัญหาความน่าเชื่อถือที่เกี่ยวข้องกับการไหลเวียนในช่วงต้นของการผลิต โดยการนี้ลดการเรียกร้องการรับประกันและการสูญเสียผลงานที่เกิดจากการกัดกรองที่เกิดจากความชื้น"ผู้เขียนรายงาน.
แหล่งไหลที่ใช้ระหว่างการประกอบโมดูลเพื่อกําจัดชั้นออกไซด์จากพื้นผิวของเทปผสมเพื่อให้ความเชื่อมโยงโลหะที่แข็งแรงที่ไม่ต้องการการทําความสะอาด และสามารถกําจัดชั้นออกไซด์และสร้างพันธะที่แข็งแรง, แต่ทิ้งปริมาณน้อยของซากที่ไม่นําไฟ
การทดสอบใช้ฟลัคซ์ทางการค้าสองชนิด คือ ฟลัคซ์ A ที่ใช้กรดคาร์บ๊อกซิล และ ฟลัคซ์ B ที่ใช้กรดเมลิกเซลล์ TOPCon แบบ n สามตัวถูกผลิตโดยใช้กระบวนการ Optimization การสัมผัสที่เพิ่มเติมด้วยเลเซอร์ (LECO) ในปี 2019นักวิจัยสังเกตว่าเซลล์มีโครงสร้างคล้ายกัน โดยมีตัวปล่อยบอร์อนที่ปรับปรุงด้านหน้าที่ครอบคลุมด้วยอะลูมิเนียมออกไซด์ (Al2O3) และซิลิคอนไนไตรด์ (SiNx)และเส้นเกรดเงินที่พิมพ์บนแผ่น; ด้านหลังประกอบด้วยซิลิคอนไดออกไซด์ (SiO2), โพลิสิลิคอนที่มีฟอสฟอรัส, SiNx, และเส้นเกรดเงินเดียวกัน
ตัวอย่างถูกแบ่งออกเป็น 5 กลุ่ม: Flux ด้านหน้า A, Flux ด้านหน้า B, Flux ด้านหลัง A, Flux ด้านหลัง B และคอนโทรลที่ไม่ใช้น้ําผสมผสมถูกนําไปใช้โดยการพ่นและแห้งบนแผ่นร้อน 85 °C นานถึง 10 นาที.
การวิเคราะห์แสดงให้เห็นว่า "ไม่สะอาด" เหลือระบายน้ําทําให้เกิดการกัดรังสีที่สําคัญของ TOPCon หน้าด้านหน้า Ag Al ติดต่อภายใต้สภาพความร้อนที่ชื้น เพิ่มความต้านทานชุดและลดประสิทธิภาพโฮคซ์ระบุ, " Flux A ที่มีฮาโลเจน มีประสิทธิภาพต่อการกัดรังมากกว่า Flux B แต่ทั้งคู่สามารถทําให้เกิดการทําลายล้างที่สําคัญ"
ทีมงานวิจัยยังพบว่า ผงเงินด้านหลังแสดงการละลายน้อย เนื่องจากความมั่นคงทางเคมีที่ดีกว่าขณะที่โครงสร้างโลหะที่หนาแน่นกว่าและมีปริมาณอะลูมิเนียมที่ต่ํากว่า.
เพื่อแก้ปัญหาเหล่านี้ นักวิจัยแนะนําให้ดําเนินการทดสอบความร้อนความชื้นบนเซลล์ที่ไม่ได้บรรจุ ก่อนบรรจุโมดูลเพื่อระบุความเสี่ยงที่เกี่ยวข้องกับการไหลเวียนอย่างรวดเร็วพวกเขายังแนะนําให้เลือกยาที่มีฮาโลเจนน้อย, สูตรของไหลเวียนที่ปรับปรุงด้วยกรดและปรับปรุงองค์ประกอบและโครงสร้างของผงโลหะเพื่อจํากัดการเจาะแพร่ของไหลเวียน
ผลการวิจัยถูกตีพิมพ์ในวารสาร Solar Energy Materials and Solar Cells ชื่อว่า "การประเมินผลกระทบของการกัดกรองที่เกิดจากกระแส solder บนเซลล์แสงอาทิตย์ TOPCon"
ก่อนหน้านี้ การศึกษาร่วมกันของ UNSW และ Canadian Solar ได้ยืนยันว่าการเลือกพลัสมีความสําคัญต่อความน่าเชื่อถือของเซลล์ TOPCon และเซลล์ heterojunction (HJT)ทีมงานที่แตกต่างกันจากสถาบันเทคโนโลยีอิเล็กทรอนิกส์เกาหลี (KETI) พบว่ากระแสทางการค้าสามารถทําลายอิเล็กทรอนด์อินเดียมทองแดงออกไซด์ (ITO) ในเซลล์ HJTUNSW ยังได้สํารวจกลไกการทําลายของเซลล์ TOPCon ภายใต้การนํา UV, การคล้องเอธิลีนไวนิลเอเซเทต (EVA) และการเผชิญหน้ากับไอออนโซเดียมเผยรูปแบบความผิดพลาดต่าง ๆ ที่ไม่เห็นในโมดูล PERC.
